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飛納電鏡為客戶配備了二次電子成像模式，使得對(duì)樣品立體外觀形貌的觀察又上了一個(gè)臺(tái)階。飛納電鏡擁有了兩只觀測(cè)樣品的“眼睛”——背散射探測(cè)器（BSD）和二次電子探測(cè)器（SED），不管您有什么觀測(cè)需求，這兩只“眼睛”都可以滿足您絕大部分的要求。
二次電子模式
飛納臺(tái)式掃描電鏡內(nèi)部可配備二次電子探頭，收集從樣品中被轟擊出的二次電子。這些二次電子主要來(lái)源于距樣品 1~10nm 的表面，由于入射深度小，入射電子的作用區(qū)域與入射束的束斑尺寸差別不大，所以相同條件下，二次電子的分辨率是優(yōu)于背散射圖像的。而且，由于二次電子對(duì)樣品傾斜角度更敏感，二次電子圖像可以呈現(xiàn)更好的立體形貌，如下圖所示。
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